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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 6 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 2001.1 条件A～E
检测项目：恒定加速度
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1014.2条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1014.3条件A1、C
检测项目：密封
检测对象：混合电路