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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 4 条相关能力。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2: 2005
集成电路—电磁发射测量，150kHz~1GHz—第二部分：辐射发射测量—TEM小室和宽带TEM小室测量法
检测项目：电磁发射-辐射发射
检测对象：集成电路
IEC61967-3：2014
集成电路—电磁发射测量—第 3 部分：辐射发射测量—表面扫描法
检测项目：电磁发射-辐射发射
检测对象：集成电路
IEC 61967-8:2023
集成电路—电磁发射测量—第8部分：辐射发射测量—带状线法
检测项目：电磁发射-辐射发射
检测对象：集成电路
IEC 61967-4：2021
集成电路—电磁发射测量—第4部分：传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：电磁发射-传导发射
检测对象：集成电路