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2026-05-12
当前展示该机构前 77 条能力；该机构共 77 条能力记录。
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GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入钳位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流、传输时间 等 9 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：外部目检、高温反偏试验、高温栅极偏压老炼、稳态功率老炼、温度循环（气体介质）、高温试验
检测对象：电子元器件
QJ2491-1993
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、开环电压增益、共模抑制比
检测对象：运算放大器
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：电容量测试、品质因素测试、寿命试验、温度循环（气体介质）
检测对象：电容器
检测对象：电感器
检测对象：电子元器件
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：外部目检、寿命试验、温度循环（气体介质）、高温试验
检测对象：电子元器件
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压、输出电流、电压调整率、电流调整率
检测对象：DC/DC 转换器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流
检测对象：电压比较器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项目：输出电压、电压调整率、电流调整率
检测对象：电压调整器
GJB2283A-2014
片式固体电解质钽固定电容器通用规范
检测项目：损耗角正切、等效串联电阻
检测对象：电容器
MIL-STD-883L-2019
微电路测试方法标准 方法
检测项目：外部目检、寿命试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-1A-2016
半导体器件环境测试方法 第1部分 方法
检测项目：高温反偏试验、寿命试验
检测对象：电子元器件
J-STD-020F-2022
元器件引脚，焊端，焊片，端子和导线可焊性试验
检测项目：回流焊、预处理
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883-2-2019
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：超声波扫描检测、绑线拉力
检测对象：电子元器件
GB/T 5729-2003
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
检测项目：电阻值
检测对象：电阻器
SJ/T 2885-2003
电子设备用固定电感器 第1部分：总规范
检测项目：电感值
检测对象：电感器
JESD22-B101D-2022
外观目检
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
JESD22-A108G-2022
温度、通电和工作寿命
检测项目：寿命试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-008A-2003
早期寿命失效率
检测项目：寿命试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A101D.01-2021
稳态湿热偏置寿命试验
检测项目：稳态湿热
检测对象：电子元器件
JESD22-A102E-2015
加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
检测项目：高压蒸煮
检测对象：电子元器件
JESD22-A104F.01-2023
温度循环
检测项目：温度循环（气体介质）
检测对象：电子元器件
IEC 60749-25-2003
半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环
检测项目：温度循环（气体介质）
检测对象：电子元器件
JESD22-A103E.01-2021
高温存储寿命
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-202H-2015
高温贮存寿命 方法
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
IEC 60749-6-2017
半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:在高温下存储
检测项目：高温试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A119A-2015
低温贮存寿命
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第1部分：试验方法 试验B：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-005-2012
非易失存储器程序/擦除耐久性，数据保持和可操作性寿命试验
检测项目：非易失性存储器数据擦写保持
检测对象：电子元器件
JESD22-B100B-2003
物理尺寸测量
检测项目：物理尺寸
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A110E.01-2021
高加速湿热应力试验
检测项目：带偏置强加速稳态湿热试验
检测对象：电子元器件
IEC 60749-4-2017
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)
检测项目：带偏置强加速稳态湿热试验
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD22-A118B.01-2021
无偏置强加速稳态湿热试验
检测项目：无偏置强加速稳态湿热试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A105D-2020
功率温度循环
检测项目：功率温度循环
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-001C-1998
基于集成电路应力测试认证的失效机理
检测项目：绑线剪切
检测对象：电子元器件
JESD22-A113I-2020
非气密性表面贴装元器件可靠性实验前的预处理
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件
J-STD-002E-2017
元器件引线、焊端、焊片、端子和导线的可焊性测试
检测项目：可焊性
检测对象：电子元器件