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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 357 条能力记录。
按标准归类为 17 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
《集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
检测项目：模拟输入电流、直流电源抑制比、交流电源抑制比、微分非线性、积分非线性、信噪比、信噪失真比S、总谐波失真 等 19 项，点击展开全部
检测对象：模数转换器
检测对象：数模转换器
GB/T 17574-1998
《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV篇、第2节、
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、输出高电平电压和输出低电平电压、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、时序电路转换频率、片选存取时间、读存取时间、写恢复时间 等 16 项，点击展开全部
检测对象：微控制器
检测对象：动态随机存储器
检测对象：复杂可编程逻辑器件
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
检测项目：数据保持电压、输入低电平漏电流、输入高电平漏电流、带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流、静态接口电源电流、静态内核电源电流、输入高电平电压 等 13 项，点击展开全部
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
GB/T 36477-2018
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、电源电流和漏电流、输入高电平电压和输入低电平电压、输出高电平电压和输出低电平电压、传输时间、建立时间和保持时间、延迟时间、存储单元0变1功能 等 10 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
GB/T 36474-2018
《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法》
检测项目：静态电源电流、输入低电平、输入高电平、输出低电平、输出高电平、功能验证、写数据参数
检测对象：动态随机存储器
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目：直流电阻、电容量、品质因数、绝缘电阻、介质耐电压
检测对象：电阻
检测对象：无极性电容器
检测对象：钽电容
GB/T 35006-2018
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》
检测项目：输出由高电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平转换时间、输出由高电平到低电平转换时间
检测对象：接口电路
《微波滤波器测试方法》 SJ 21162-2016
《微波滤波器测试方法》 SJ 21162-2016
检测项目：插入损耗、驻波比、截止频率、阻带损耗
检测对象：无源滤波器
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006
《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 SJ/20961-2006
检测项目：基准电压、功耗
检测对象：模数转换器
检测对象：数模转换器
《微波衰减器测试方法》 SJ 21272-2018 方法
《微波衰减器测试方法》 SJ 21272-2018 方法
检测项目：固定衰减量、电压驻波比
检测对象：衰减器
GB/T 44766-2024
《微波电路 限幅器测试方法》
检测项目：电压驻波比、插入损耗
检测对象：限幅器
《微波混频器测试方法》 GJB 9387-2018
《微波混频器测试方法》 GJB 9387-2018
检测项目：变频损耗、隔离度
检测对象：双平衡混频器
《微波电路放大器测试方法》 GJB 8125-2013
《微波电路放大器测试方法》 GJB 8125-2013
检测项目：增益、回波损耗
检测对象：低噪放大器
《有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范》 GJB 675A-2002
《有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范》 GJB 675A-2002
检测项目：直流电阻
检测对象：电感器
《1类瓷介固定电容器通用规范》 GJB 468A-2011
《1类瓷介固定电容器通用规范》 GJB 468A-2011
检测项目：损耗角正切
检测对象：无极性电容器
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
检测项目：损耗角正切
检测对象：钽电容
GB/T 42972-2023
《微波电路 检波器测试方法》
检测项目：输出电压
检测对象：对数检波器