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2026-05-12
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半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流、静态功耗、开环电压增益、输出低电平电压、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电路电压比较器
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：温度循环、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、外部目检、稳定性烘焙、扫频振动、盐雾试验
检测对象：微电子器件
检测对象：电气产品
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率、电流调整率、纹波抑制比、耗散电流和耗散电流变化、短路电流、输出电压和输出电压偏差、基准电压
检测对象：半导体集成电路电压调整器
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：电阻值、品质因数 （Q）、直流电阻、电容量、绝缘电阻、高温寿命试验
检测对象：固定电阻器
检测对象：电感器
检测对象：电容器
检测对象：电子及电气元件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：外观及机械检验、老炼（二极管、整流管和稳压管）、老炼（晶体管）、温度循环（空气-空气）、密封(氦质谱检漏)、扫频振动
检测对象：半导体分立器件
GJB 360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：温度冲击试验、密封(氦质谱检漏)、密封（氟油检漏）、随机振动、高频振动
检测对象：电子及电气元件
GB/T 6346.1-2024
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：电容量、损耗角正切、漏电流、绝缘电阻
检测对象：电容器
电连接器试验方法 GJB 1217A-2009 方法
电连接器试验方法 GJB 1217A-2009 方法
检测项目：绝缘电阻、接触电阻、介质耐电压
检测对象：电连接器
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：老炼和寿命试验（功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管（IGBT））、密封（氟油检漏）、粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：半导体分立器件
GB/T 29332-2012
半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT)
检测项目：栅极-发射极阈值电压、栅极-发射极漏电流、集电极截止电流
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流、开环电压增益
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
GB/T2423.1--2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
检测项目：低温试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.10-2019
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc：振动（正弦）
检测项目：振动试验
检测对象：电气产品
GBT5729-2003
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范
检测项目：电阻值
检测对象：固定电阻器
电子设备用固定电感器 第1部分：总规范 SJ/T 2885-2003
电子设备用固定电感器 第1部分：总规范 SJ/T 2885-2003
检测项目：电感量
检测对象：电感器
军用装备实验室环境试验方法 振动试验 GJB150.16A-
军用装备实验室环境试验方法 振动试验 GJB150.16A-
检测项目：振动试验
检测对象：电气产品
电子产品环境应力筛选试验 GJB1032A-
电子产品环境应力筛选试验 GJB1032A-
检测项目：振动试验
检测对象：电气产品
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测试验
检测对象：微电子器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：稳态工作寿命
检测对象：半导体分立器件
军用装备实验室环境试验方法 第20部分：炮击振动试验 GJB150.20A-
军用装备实验室环境试验方法 第20部分：炮击振动试验 GJB150.20A-
检测项目：振动试验
检测对象：电气产品
GB/T 2423.15-2008
电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Ga和导则: 稳态加速度
检测项目：加速度试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 加速度试验 GJB150.15A-
军用装备实验室环境试验方法 加速度试验 GJB150.15A-
检测项目：加速度试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 霉菌试验 GJB150.10A-
军用装备实验室环境试验方法 霉菌试验 GJB150.10A-
检测项目：霉菌生长试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.21-2008
电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 低气压(高度)试验 GJB150.2A-
军用装备实验室环境试验方法 低气压(高度)试验 GJB150.2A-
检测项目：低气压（高度）试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.22-2012
环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
检测项目：温度改变试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 低温试验 GJB150.4A-
军用装备实验室环境试验方法 低温试验 GJB150.4A-
检测项目：低温试验
检测对象：电气产品
电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A－2020
电子产品环境应力筛选方法 GJB1032A－2020
检测项目：温度改变试验
检测对象：电气产品
GB/T 2423.18-2021
环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）
检测项目：盐雾试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.17-2008
电工电子产品基本环境试验规程第2部分:试验方法 试验Ka;盐雾试验方法
检测项目：盐雾试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11A-
军用装备实验室环境试验方法 盐雾试验 GJB150.11A-
检测项目：盐雾试验
检测对象：电气产品
舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB4.11-
舰船电子设备环境试验 盐雾试验 GJB4.11-
检测项目：盐雾试验
检测对象：电气产品
用通信设备通用规范 GJB367A－2001
用通信设备通用规范 GJB367A－2001
检测项目：盐雾试验
检测对象：电气产品
军用设备环境试验方法温度-湿度-高度试验 GJB 150.24A-2009
军用设备环境试验方法温度-湿度-高度试验 GJB 150.24A-2009
检测项目：温度-湿度-高度试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.27-2020
环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验
检测项目：温度-湿度-高度试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.35-2019
环境试验 第2部分：试验和导则 气候和动力学综合试验
检测项目：气候和动力学综合试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.2--2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
检测项目：高温试验
检测对象：电气产品
军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-
军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-
检测项目：温度冲击试验
检测对象：电气产品
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.1，
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.1，
检测项目：输入失调电压
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
军用装备实验室环境试验方法 高温试验 GJB150.3A-
军用装备实验室环境试验方法 高温试验 GJB150.3A-
检测项目：高温试验
检测对象：电气产品
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.3,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.3,
检测项目：输入偏置电流
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.7,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.7,
检测项目：静态功耗
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.9,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.9,
检测项目：共模抑制比
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.12,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.12,
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.13,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.13,
检测项目：输出峰-峰电压
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.15,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.15,
检测项目：输出短路电流
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
GB/T2423.3-2016
环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验
检测项目：恒定湿热试验
检测对象：电气产品
GB/T2423.4-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db:交变湿热
检测项目：交变湿热试验
检测对象：电气产品