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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 16 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：高温试验、键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、密封性、温度循环试验、集成电路老炼
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021方法
检测项目：高温试验、键合强度、剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、温度循环试验、集成电路老炼
检测对象：电子及电气元件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目：密封性
检测对象：电子及电气元件