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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子器件”筛选，展示 6 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳态寿命、稳定性烘焙、温度循环、老炼试验、外部目检
检测对象：微电子器件筛选
半导体光电子器件外壳通用规范 GJB 5438-2005 3.5.2节
半导体光电子器件外壳通用规范 GJB 5438-2005 3.5.2节
检测项目：绝缘电阻
检测对象：外壳