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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电子元器件”筛选，展示 3 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：密封
检测对象：电子元器件