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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选,展示 3 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
IEC 61967-2: 2005
集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第2部分 辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目:辐射发射测量-TEM小室法
检测对象:集成电路(IC)
IEC 61967-2: 2021 RLV
集成电路 电磁发射测量 第4部分-传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 IEC 61967-4: 2021 RLV
检测项目:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法
检测对象:集成电路(IC)
IEC 61967-8:2023
集成电路 电磁发射测量 第8部分 辐射发射测量-IC 带状线法
检测项目:辐射发射测量-IC 带状线法
检测对象:集成电路(IC)