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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“GJB 150.4A-2009”筛选,展示 2 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 150.4A-2009
军用装备实验室环境试验方法第4部分: 低温试验
检测项目:温度储存试验
检测对象:电子半导体产品和系统