当前查看：成都思科瑞微电子股份有限公司
四川省
地址：成都高新区安泰四路68号
联系电话：028-89140831
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选，展示 56 条相关能力。
按标准归类为 22 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB152A-1997
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 5 方法 CE
检测项目：CE101 25Hz～10kHz电源线传导发射、CE102 10kHz～10MHz电源线传导发射、CE107 电源线尖锋信号(时域)传导发射、CS101 25Hz～150kHz电源线传导敏感度、CS106 电源线尖峰信号传导敏感度、CS116 10kHz～100MHz电缆束和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
GJB151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：CE101 25Hz～10kHz电源线传导发射、CE102 10kHz～10MHz电源线传导发射、CE107 电源线尖锋信号(时域)传导发射、CS101 25Hz～150kHz电源线传导敏感度、CS106 电源线尖峰信号传导敏感度、CS116 10kHz～100MHz电缆束和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
GB/T 35007-2018
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：电源关断输入漏电流、电源关断输出漏电流、静态电源电流、关断电源电流、动态电源电流
检测对象：半导体集成电路低电压差分信号电路
HJB34A-2007
舰船电磁兼容性要求
检测项目：CE01 25Hz~10kHz 电源线传导发射、CE03 10kHz~ 30MHz 电源线传导发射、CS01 25Hz~50kHz电源线传导敏感度、CS06电源线尖峰信号传导敏感度、CS11 10kHz~ 100MHz电缆束和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度
检测对象：船舶专用设备
GB/T 17574-1998
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节
检测项目：动态条件下的总电源电流、静态条件下的电源电流、静态电源电流<i>I</i><sub>S</sub>、电源电流
检测对象：半导体集成电路-存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
MIL-STD-461G
设备和分系统电磁干扰特性的控制度要求
检测项目：CE101 25Hz～10kHz电源线传导发射、CE102 10kHz～10MHz电源线传导发射、CS101 25Hz～150kHz电源线传导敏感度、CS116 10kHz～100MHz电缆束和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
GB/T 17940-2000
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、
检测项目：静态电源电流、电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路运算放大器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：电源电流、直流电源抑制比
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：动态电源电流、静态电源电流
检测对象：快闪存储器
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：静态接口电源电流、静态内核电源电流
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 /
检测项目：高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体光电耦合器
GB/T 6798-96
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 /
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T14030-92
《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 /
检测项目：静态电源电流
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：电源电流
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项目：电源电流
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T10738-1996
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.12,
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法5.12,
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目：电源电压抑制比
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电源纹波抑制比
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
检测项目：中心频率电源电压灵敏度
检测对象：半导体集成电路锁相环
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法
检测项目：电源电流
检测对象：第三代双倍数据速率同步动态随机存储器
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：电源电流
检测对象：电平转换器