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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 72 条相关能力。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序
检测项目：稳态寿命、稳定性烘焙、温度循环、粒子碰撞噪声检测试验、密封、老炼试验、寿命/可靠性试验、密封前老炼 等 29 项，点击展开全部
检测对象：集成电路和电子器件
检测对象：微电子器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：低气压（高空工作）、浸液、绝缘电阻、耐湿、稳态寿命、稳定性烘焙、盐雾、温度循环 等 27 项，点击展开全部
检测对象：微电子器件
MIL-STD-883H-2010
微电子器件试验方法 方法
检测项目：低气压、耐湿、稳态寿命、稳定性烘焙、温度循环、盐雾、粒子碰撞噪声检测试验、密封 等 16 项，点击展开全部
检测对象：集成电路和电子器件