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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“光电子器件”筛选，展示 3 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：暗电流（I<sub>CEO</sub>）、集电极发射极饱和电压（V<sub>CEsat</sub>）、电流传输比（h<sub>F(ctr)</sub>）
检测对象：光电耦合器