当前查看:上海航天技术基础研究所
上海市
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“电源”筛选,展示 14 条相关能力。
按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GB/T17574-1998
半导体集成电路第2部分:数字集成电路 IV.
检测项目:工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>、维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、输出低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测对象:半导体集成电路CMOS电路
GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目:电源电流 I<Sub>cc</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象:A/D转换器
检测对象:D/A转换器
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目:电源电压抑制比 K<Sub>SVR</Sub>
检测对象:半导体集成电路运算放大器
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象:半导体集成电路电压比较器
SJ20961-2006
集成电路A/D和 D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目:电源电压灵敏度K<Sub>SVS</Sub>
检测对象:D/A转换器
SJ 20294-1993
半导体集成电路JW 1524、JW1525、JW1525A、JW1526、JW1527、JW1527A型脉宽调制器详细规范
检测项目:电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象:PWM脉宽调制电路
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 3.4/
检测项目:电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象:电压基准