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2026-05-12
当前展示该机构前 100 条能力；该机构共 541 条能力记录。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T17574-1998
半导体集成电路第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出低阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、工作状态时电源电流I<Sub>CC</Sub>、维持状态时电源电流I<Sub>CCS</Sub> 等 25 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：数字输出高电平电压 V<Sub>oH</Sub>、数字输出低电平电压 V<Sub>oL</Sub>、零点误差 E<Sub>Z</Sub>、增益误差 E<Sub>G</Sub>、线性误差 E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、数字输入高电平电压 V<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电压 V<Sub>IL</Sub> 等 15 项，点击展开全部
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
QJ 2491-93
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比 K<Sub>SVR</Sub>、最大输出电压V<Sub>OPP</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
GB/T 6798-1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 8554-1998
电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序
检测项目：尺寸的测量和检验、绕阻直流电阻、绝缘电阻、品质因数、有效电感
检测对象：固定电感器
GB/T 4377-2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、消耗电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项目：增益误差E<Sub>G</Sub>、采样-保持失调电压V<Sub>OO（S-H）</Sub>
检测对象：半导体集成电路采样/保持放大器
QJ 1903-1990
电连接器总规范
检测项目：外观检查（包括尺寸、质量）、互换性
检测对象：低频电连接器
GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：电源电流 I<Sub>cc</Sub>、电源电流I<Sub>cc</Sub>
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
GB/T 5729-2003
电子设备用固定电阻器第一部分：总规范
检测项目：外观和尺寸检查
检测对象：固定电阻器
GJB 1216A-2021
电连接器接触件总规范
检测项目：外观检查（包括尺寸、质量）
检测对象：低频电连接器
GJB 1217A-2009
电连接器试验方法
检测项目：低电平接触电阻
检测对象：低频电连接器