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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

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地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

当前展示该机构前 91 条能力;该机构共 91 条能力记录。

按标准归类为 22 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路 电压比较器测试方法

14 项检测项目

检测项目:输入失调电压、输入失调电压温度系数、输入失调电流、输入失调电流温度系数、输入偏置电流、输入偏置电流温度系数、静态功耗、开环电压增益 等 14 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压输入失调电压温度系数输入失调电流输入失调电流温度系数输入偏置电流输入偏置电流温度系数静态功耗开环电压增益共模抑制比电源电压抑制比输出高电平电压输出低电平电压高电平输出电流低电平输出电流

SJ20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法

14 项检测项目

检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、输出电压温度系数、效率 等 14 项,点击展开全部

检测对象:混合集成电路DC/DC变换器

输出电压输出电流输出纹波电压电压调整率电流调整率输入电流输出电压温度系数效率绝缘电阻启动过冲启动延迟输入电压跃变时的输出响应输入电压跃变时的恢复时间开关频率

SJ20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

9 项检测项目

检测项目:ADC零点误差、ADC零点误差温度系数、ADC线性误差、ADC线性误差温度系数、ADC微分线性误差、ADC微分线性误差温度系数、ADC功耗、ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 等 9 项,点击展开全部

检测对象:集成电路A/D转换器

ADC零点误差ADC零点误差温度系数ADC线性误差ADC线性误差温度系数ADC微分线性误差ADC微分线性误差温度系数ADC功耗ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流

GB/T14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

8 项检测项目

检测项目:复位电压、复位电流、触发电压、触发电流、阈值电压、阈值电流、控制端电压、静态电源电流

检测对象:时基电路

复位电压复位电流触发电压触发电流阈值电压阈值电流控制端电压静态电源电流

GB/T14028-2018

半导体集成电路 模拟开关测试方法

7 项检测项目

检测项目:模拟电压工作范围、导通电阻、截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、导通态漏电流、开启时间、关断时间

检测对象:半导体集成电路模拟开关

模拟电压工作范围导通电阻截止态漏极漏电流截止态源极漏电流导通态漏电流开启时间关断时间

GB/T4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

7 项检测项目

检测项目:电压调整率和电压稳定系数、电流调整率和电流稳定系数、输出电压温度系数、短路电流、输出阻抗、基准电压、最小输入输出压差

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率和电压稳定系数电流调整率和电流稳定系数输出电压温度系数短路电流输出阻抗基准电压最小输入输出压差

GB/T 4586-1994

半导体分立器件第8部分:场效应晶体管 第Ⅳ章

7 项检测项目

检测项目:击穿电压、漏电流、阈值电压、导通电阻、导通电压、跨导、正向电流

检测对象:场效应管IGBT

击穿电压漏电流阈值电压导通电阻导通电压跨导正向电流

GB/T15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法

5 项检测项目

检测项目:饱和压降、电流传输比、开关时间、暗电流、隔离电阻

检测对象:光耦

饱和压降电流传输比开关时间暗电流隔离电阻

GB/T 4587-2023

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管

4 项检测项目

检测项目:击穿电压、饱和压降、截止电流、直流放大倍数

检测对象:晶体管

击穿电压饱和压降截止电流直流放大倍数

GB/T4023-2015

半导体分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

3 项检测项目

检测项目:正向压降、反向击穿电压、反向漏电流

检测对象:二极管

正向压降反向击穿电压反向漏电流

GB/T2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 试验Ea和导则

2 项检测项目

检测项目:机械冲击、碰撞

检测对象:电工电子产品

机械冲击碰撞

GB/T2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环) 试验Db

1 项检测项目

检测项目:耐湿(交变)

检测对象:电工电子产品

耐湿(交变)

GB/T2423.15-2008

电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度 试验Ga和导则

1 项检测项目

检测项目:恒定加速度

检测对象:电工电子产品

恒定加速度

GB/T2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) 试验Fc

1 项检测项目

检测项目:振动

检测对象:电工电子产品

振动

GB/T2423.34-2024

环境试验 第2部分: 试验方法 试验 Z/AD:温度/湿度组合循环试验 试验 Z/AD

1 项检测项目

检测项目:耐湿(交变)

检测对象:电工电子产品

耐湿(交变)

GB/T2423.3-2016

环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 试验Cab

1 项检测项目

检测项目:稳态湿热

检测对象:电工电子产品

稳态湿热

GB/T2423.22-2012

环境试验 第2部分 试验方法 试验N:温度变化 试验Na

1 项检测项目

检测项目:温度冲击(气体介质)

检测对象:电工电子产品

温度冲击(气体介质)

GB/T4937.13-2018

半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 第13部分

1 项检测项目

检测项目:盐雾

检测对象:电工电子产品

盐雾

GB/T2423.17-2024

环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka:盐雾 试验Ka

1 项检测项目

检测项目:盐雾

检测对象:电工电子产品

盐雾

GB/T2423.18-2021

环境试验 第2部分: 试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液) 试验Kb

1 项检测项目

检测项目:盐雾

检测对象:电工电子产品

盐雾

GB/T2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验A:低温 试验A

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电工电子产品

低温试验

GB/T2423.2-2008

电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验B:高温 试验B

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电工电子产品

高温试验

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

法定代表人

王海波

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