当前查看：河北北芯半导体科技有限公司
河北省 · 石家庄市
地址：河北省石家庄市鹿泉经济开发区昌盛大街21号
联系电话：0311-83933625
数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“微电子器件”筛选，展示 225 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测、密封、X射线照相检验、芯片粘接的超声检测、高温试验、耐湿、温度循环（空气-空气）、热冲击（液体-液体） 等 54 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件（物理性能）
检测对象：电子元器件及设备(气候)
检测对象：电子元器件及设备（寿命及可靠性）
检测对象：电子元器件及设备（机械性能）
检测对象：电子元器件
检测对象：场效应晶体管
检测对象：半导体分立器件外壳
检测对象：混合集成电路外壳
检测对象：半导体集成电路外壳
检测对象：混合集成电路
检测对象：电子产品（静电敏感）
检测对象：通用电子元器件（破坏性物理分析）
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
检测对象：半导体集成电路（失效分析）
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测、密封、X射线照相检验、芯片粘接的超声检测、高温试验、耐湿、温度循环（空气-空气）、热冲击（液体-液体） 等 50 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件（物理性能）
检测对象：电子元器件及设备(气候)
检测对象：电子元器件及设备（寿命及可靠性）
检测对象：电子元器件及设备（机械性能）
检测对象：电子元器件
检测对象：通用电子元器件（破坏性物理分析）
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
检测对象：半导体集成电路（失效分析）
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：外部目检、物理尺寸、粒子碰撞噪声检测、密封、X射线照相检验、芯片粘接的超声检测、高温试验、耐湿 等 42 项，点击展开全部
检测对象：电子元器件（物理性能）
检测对象：电子元器件及设备(气候)
检测对象：电子元器件及设备（寿命及可靠性）
检测对象：电子元器件及设备（机械性能）
检测对象：电子元器件
检测对象：场效应晶体管
检测对象：半导体分立器件外壳
检测对象：混合集成电路外壳
检测对象：半导体集成电路外壳
检测对象：混合集成电路
检测对象：电子产品（静电敏感）
检测对象：通用电子元器件（破坏性物理分析）
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
MIL-STD-883-2-2019
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：外部目检、键合强度、芯片剪切强度、玻璃熔封盖板的扭矩试验
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）
MIL-STD-883-1-2019
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：密封、内部水汽含量
检测对象：电子元器件及设备（物理性能）