中国赛宝实验室工业和信息化部电子第五研究所中国电子产品可靠性与环境试验研究所

GB/T5095.2-1997,IEC60512-2:1994

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查,电连续性和接触电阻测试,绝缘试验和电压应力试验

GB/T5095.5-1997,IEC60512-5:1992

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验（自由元件）,静负荷试验（固定元件）,寿命试验和过负荷试验

GB/T5095.6-1997,IEC60512-6:1984

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验

GB/T5095.1-1997,IEC60512-1:1994

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则

GB/T5095.3-1997,IEC60512-3:1976

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验

GB/T5095.4-1997,IEC60512-4:1976

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验

GB/T 5095.7-1997

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验

GB/T 5095.8-1997

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验