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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 5 条相关能力。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 61967-2:2005
集成电路150kHz至1GHz电磁辐射的测量-第2部分：辐射发射的测量.TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：集成电路辐射发射的测量
检测对象：集成电路
EN IEC 61967-4:2021
集成电路发射测量方法 第4部分：传导发射测量-1Ω/150Ω直接合法 全条款
检测项目：传导发射 -1Ω/150Ω直接合法
检测对象：集成芯片
IEC 61967-4:2021
集成电路发射测量方法 第4部分：传导发射测量-1Ω/150Ω直接合法 全条款
检测项目：传导发射 -1Ω/150Ω直接合法
检测对象：集成芯片
EN IEC 61967-8:2023
集成电路发射测量方法 第8部分：辐射发射测量- IC 带状线法 全条款
检测项目：辐射发射- IC带状线法
检测对象：集成芯片
IEC 61967-8:2011
集成电路发射测量方法 第8部分：辐射发射测量- IC 带状线法 全条款
检测项目：辐射发射- IC带状线法
检测对象：集成芯片