当前查看：中国电子技术标准化研究院赛西实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“IEC 61967”筛选，展示 6 条相关能力。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC61967-4:2002
集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-4:2006
集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-4:2021
集成电路 电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-2:2005
集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
IEC61967-8:2011
集成电路电磁发射测量方法 第8部分:辐射发射测量—IC带状线法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
IEC 61967-8:2023
集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状法
检测项目：辐射发射测量—带状线法
检测对象：集成电路