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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“开关”筛选，展示 1 条相关能力。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ∕T 11706-2018
半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
检测项目：开关参数
检测对象：现场可编程门阵列