当前查看：中国电子科技集团公司第二十研究所瑞测校准检测实验室
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数据更新时间
2026-05-12
当前机构按“半导体集成电路模拟开关”筛选，展示 10 条相关能力。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T14028-2018
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D(off)</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>S(off)</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DS(on)</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
GB/T17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态工作电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关